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測定ソフトウェア

*バージョンが古いです。現在最新版を作成中です。すみません・・・

解析ソフトウェア

安全について

邦文の出版物

  • 宇田川康夫編著 日本分光学会測定法シリーズ26 「X線吸収微細構造-XAFSの測定と解析」(1993) 学会出版センター   実験を中心にまとめてある
  •  石井忠夫著 「EXAFSの基礎-広域X線吸収微細構造」(1994) 裳華房 理論を中心にまとめてある。
  •  太田俊明編著 「X線吸収分光法:原理、実験法、解析法及びその応用」(2002)アイピーシー
  •  太田俊明、横山利彦編著 「内殻分光-元素選択性をもつX線内殻分光の歴史・理論・実験法・応用-」(2007) アイピーシー

邦文の講習会等のテキスト類

  • 放射光シンポジウム予稿集 「EXAFSでどこまで分かるか」 日本放射光学会 (1990.1.23)
  • 講習会 「EXAFS、XANESの基礎と応用」 日本化学会関東支部 (1986.6.11-12)

邦文の解説

  • 大柳宏之、太田俊明 「EXAFSおよび表面EXAFSにおける放射光の利用」、真空、26, 219 (1983).
  • 大柳宏之 「EXAFS法による局所構造解析法-測定と解析法の可能性と限界-」 分光研究、 34, 271 (1985).
  • 朝倉清高 「広域X線吸収構造分光(EXAFS)」、日本化学会編「第4版 実験化学講座 13巻 表面・界面」p.368 (1993) 丸善。
  • XAFSシリーズ、放射光 11, 314, 388 (1998), 12, 219, 303, 395, 405 (1999), 13, 187, 319, 382, 385 (2000), 14, 55, 143 (2001).

欧文の出版物

  • D. C. Koningsberger and R. Prins, “X-ray Absorption: Principles, Applications, Techniques of EXAFS, SEXAFS and XANES”, John Wiley & Sons, New York (1988).
  • B. K. Teo, “EXAFS: Basic Principles and Data Analysis”, Springer-Verlag, Berlin (1986) データ解析法中心
  • J. Stohr, “NEXAFS Spectroscopy”, Springer-Verlag (1992). XANES中心
  • Y. Iwasawa ed., “X-ray absorption fine structure for catalysts and surfaces”, World Scientific (1996).

欧文の総説

  • P. A. Lee, P. H. Citrin, P. Eisenberger and B. M.Kincaid, “Extended x-ray absorption fine structure-its strengths and limitations as a structural tool”, Rev. Mod. Phys., 53, 769 (1981).  やや古いが理論、解析法、実験法等が良くまとめてある
  • J. J. Rehr and R. C. Albers, “Theoretical approach to XAFS”, Rev. Mod. Phys., 72,621(2001).

測定、解析の基準

  • 測 定、解析法についてその標準化が測られており、そのワーキンググループのレポートがInternational XAFS Societyのweb site (http://ixs.csrri.iit.edu/IXS/)に掲載されている。また、XAFS VI, Vのプロシーディングスにも収録されている。和訳は山口、大柳、桑原、日本結晶学会誌31, 263 (1989).

XAFS国際会議のプロシーディングス

これらのプロシーディングスは最新の研究内容をサーベイするにも便利である。

  • [XAFSXIV] Proceedings of the 14th International Conference on X-ray Absorption Fine Structure
  • [XAFSXIII] AIP Conference Proceedings 882 (2007)
  • [XAFSXII] Physica Scripta, T115 (2003)
  • [XAFS XI] J. Synchrotron Rad., 8, Part 2 (2001).
  • [XAFS X] J. Synchrotron Rad., 6, Part 3 (1999).
  • [XAFS IX] J. Phys. (Paris) Ⅳ, 7, C2 (1997).
  • [XAFS VIII] Physica B, 208 & 209 (1995).
  • [XAFS VII] Jpn. J. Appl. Phys., 32, Suppl 32-2 (1993).
  • [XAFS VI] “X-ray Absorption Fine Structure” ed. by S.S. Hasnain, Ellis Horwood (1991).
  • [XAFS V] Physica B, 158, 701 (1989).
  • [XAFS IV]”EXAFS and Near edge Structure”, J. Phys. (Paris). 47, C8-Supple 12 (1987).
  • [XAFS III] “EXAFS and near edge structure III” ed by K. O. Hodgeson, B. Hedman and J. E. Penner-Hahn, Springer-Verlag (1984).
  • [XAFS II] “EXAFS and near edge structure ” ed by A. Bianconi, L. Incoccia and S. Stipcich, Springer-Verlag (1983).

実験に関すること等、お気軽にお問い合わせください。

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