XAFS測定用試料の作成

まず、測定の基本は「透過法」です。測定したい試料が透過法で問題なく測定できるかどうかは試料の組成がわかれば判定できます。そのため、あらかじめ蛍光分析やICP発光分光などで元素分析を済ませておくことを推奨します。

組成がわかれば、測定したい元素の吸収端付近のエネルギーにおける各元素のX線吸収係数を用いて試料全体のX線吸収係数を見積もることができます。各元素のX線吸収係数(線吸収係数、質量吸収係数)は「International Tables for X-Ray Crystallography」などを参照すれば得ることができ、そこから手計算や簡単な表計算マクロなどでも十分計算が可能であるが、放射光施設などで配布してる専用の計算ソフトを使用すると簡単である。PFでは「SAMPLEM4M」というソフトウェアを配布しているのでソフトウェアライブラリのページからダウンロードしてください。
ソフトウェアライブラリ

SPring-8産業利用推進室が配布しているXAFS試料調製ガイドプログラムはこちら

名古屋大学シンクロトロン光研究センターが配布している吸収係数計算プログラム(AbsC)